Peter Baumann: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Buch
- Simulation mit PSPICE
- Springer-Verlag GmbH, 11/2019
- Einband: Kartoniert / Broschiert, Book
- Sprache: Deutsch
- ISBN-13: 9783658265731
- Bestellnummer: 9218005
- Sonstiges: 153 schwarz-weiße Abbildungen, Bibliographie
- Nummer der Auflage: 19002
- Auflage: 2., erweiterte Auflage
- Gewicht: 353 g
- Maße: 241 x 172 mm
- Stärke: 20 mm
- Erscheinungstermin: 26.11.2019
Klappentext
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.Biografie
Peter Baumann ist Rechtsanwalt in München mit den Schwerpunkten Arbeitsrecht und Scheidungsrecht.Anmerkungen:
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