Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32° 90° NF.2,3.4 - Emanuel Kayser (Buch)

Emanuel Kayser: Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32° 90° NF.2,3.4

Emanuel Kayser

Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32° 90° NF.2,3.4

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Antigonos Verlag, 11/2024
Einband: Kartoniert / Broschiert, Paperback
Sprache: Deutsch
ISBN-13: 9783386331500
Bestellnummer: 12077027
Umfang: 276 Seiten
Gewicht: 404 g
Maße: 210 x 148 mm
Stärke: 19 mm
Erscheinungstermin: 7.11.2024

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EUR 69,90* Emanuel Kayser: Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32° 90° NF.2,3.4 Buch, Gebunden, HC gerader Rücken kaschiert

Klappentext

Unveränderter Nachdruck der Originalausgabe von 1871. Der Verlag Antigonos spezialisiert sich auf die Herausgabe von Nachdrucken historischer Bücher. Wir achten darauf, dass diese Werke der Öffentlichkeit in einem guten Zustand zugänglich gemacht werden, um ihr kulturelles Erbe zu bewahren.

Anmerkungen:

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