Emanuel Kayser: Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32°..., Kartoniert / Broschiert

Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32° 90° NF.2,3.4

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